离心沉降式粒度分析仪抄板克隆及样机制作

离心沉降式粒度分析仪
　　测试对象
　　1.各种非金属粉：如重钙、轻钙、滑石粉、高岭土、石墨、硅灰石、水镁石、重晶石、云母粉、膨润土、硅藻土、黏土等。
　　2.各种金属粉：如铝、锌、钼、钨、镁、铜粉以及其他稀土金属粉、合金粉等。
　　3.其它粉体：如水泥、磨料、药品、食品涂料、染料、荧光粉、催化剂、河流泥沙、陶瓷原料等。
　　性能指标
　　1.测试范围：0.1μm—150μm
　　2.测试方式：重力沉降方式，离心沉降方式，组合沉降方式
　　3.重复性误差：< 4%（标样D50偏差）
　　4.软件运行环境：Windows 2000、Windows XP
　　5.接口方式：RS232或USB方式
　　6.测试时间：3-15分钟/次
　　7.离心机转速：750转/分、1500转/分宇博长期承接电路板抄板、板上IC芯片解密、PCB原理图反推、物料清单BOM制作、电路板克隆、电路板打样、电路板焊接、样机全套克隆、样机制作与调试、产品全套技术资料提取等技术服务，有意寻求项目合作者请致电宇博。